ZYGO新品_VFA+干涉仪来啦，全新的计量方案了解一下

新品发布

__*快速的非球面自由曲面测量解决方案

ZYGO于2021年10月18日在美国罗彻斯特国际光学产品技术展 （SPIE Optifab）中，推出了其全新一代的Verifire Asphere+非球面激光干涉仪（简称VFA+），并展示了*新的计量技术方案。

*新的VFA+长这样

VFA+建立在上一代Verfire Aphere非球面干涉仪成功的基础之上，基于拼接技术，使用标准球面标准镜及干涉仪主机，就可以快速、非接触、高分辨率地测量出轴向对称的非球面表面形貌。

VFA+具备非球面测试能力的同时，也是一个高精度曲率半径测试平台。其专业的设计，能非常有效地隔绝环境震动和气流扰动的影响，使其光学器件曲率半径的测试重复性达到百纳米的级别。

VAF+能完全覆盖一台高精度和稳定的立式球面/平面激光干涉仪，基于其六个维度（X平移、Y平移、倾斜、俯仰、高低、旋转）全自动调整的样品台，用户可以自主完成全自动化的测试脚本程序。

除了拥有以上这些上一代Verfire Aphere已有的特点和优势之外，新的VFA+更新了强大的Mx软件（👈点击“Mx软件”了解更多详情），采用了更稳定可靠的测量仓设计，更重要的是：

VAF+可以高速批量检测，包括自由曲面在内的非球面光学器件。

VFA+图示👆

ZYGO的VFA+集成了一个可选的工作台，用于放置转换波前的全息板 (CGH)（👈点击“全息板（CGH）”了解更多详情）。基于CGH，VFA+可以测试包括自由曲面在内的各类非球面，包括样品校准在内的测样过程，单次在十几秒内，就可以测得非球面3D相貌（百万像素级数据密度），可以适用于各类自由曲面、圆柱及离轴圆锥曲面。

这一全新的技术方案，将打开大规模批量柔性光学制造技术的大门。从此，非球面光学加工质量控制将变得更容易执行，且更具有成本效益。

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