产品详情
简单介绍:
半导体硅片检查用显微镜MX51
规格: 放大倍数:50×、100×、200×、500×、1000X;
物镜种类:平场半复消色差物镜,萤石材料;
观察方法:明场、暗场、偏振光;
详情介绍:
半导体硅片检查用显微镜MX51
规格: 放大倍数:50×、100×、200×、500×、1000X;
物镜种类:平场半复消色差物镜,萤石材料;
观察方法:明场、暗场、偏振光;