产品详情
简单介绍：
GPI激光干涉仪可应用于：平面和球面的面形检测;平面楔角测量、直角棱镜的直角偏差和任意角度的加工偏差 ;光学材料均匀性测量;GPI激光干涉仪可应用于角锥角度和面形偏差测量 ;精密盘片质量检验 ;三平板优良测量 ;双球面优良测量 ;静态干涉条纹判断 ;泽尼克多项式分析 ;球面曲率半径测量
详情介绍：
GPI™系列
GPI™
XP/D-ZYGO激光干涉仪的国产化之路
为了回报广大中国客户对ZYGO激光干涉仪产品的厚爱，ZYGO公司将其应用*广泛、技术*成熟的经典产品--GPI™ XP/D型号激光干涉仪在中国进行组装生产。
GPI™ XP/D激光干涉仪--运用移相干涉原理，提供高精度的平面面形，球面面形，曲率半径，样品表面质量，传输波前的测量和分析。
GPI™ XP/D是ZYGO在中国甚至全世界市场占有率*高的一款激光干涉仪，广泛应用于科研教学和生产检测中。GPI™ XP/D主机为Fizeau型干涉仪，测量精度高且操作简单，采用精密移相技术和高分辨率CCD接收器件640Х480（可以升级为1024×1024），配合功能强大的MetroPro®软件可以获得高重复性和高精度的测量结果，其三平板优良测量重复性优于λ/300，rms重复性优 于λ/10,000。并能模拟样品表面面形，并显示鲜明的，可旋转的3D彩**像，可选的剖面图以及各种统计数字结果等。同时，针对特殊的样品、 特殊的测量需求，可以为用户设计定制特殊的测量系统，结合MetroPro®软件，为用户提供上乘的技术解决方案并获得满意的测量结果。
